在一套系统的使用寿命期间，几乎每个承载力学备件都会多次加载。在许多行业中，结构材料经过专门设计，能够承受重复变化的单轴或多轴比例或非比例载荷条件。通常，这类金属结构的设计基于弹性（屈服极限）分析，但这种分析未能充分利用材料的承载储备，从而导致结构重量和耐久性能方面效率低下。相比之下，根据安定性（一种安全循环弹塑性行为）设计，可以延长部件使用寿命并/或提供轻量化优势。
理海大学为安定性设计打开大门
安定性可通过在循环载荷上建立适当的残余应力来实现，从而阻止塑性变形积累，恢复纯弹性行为。虽然安定性的概念和设计规则在 20 世纪 20 年代就已制定，但在核工业之外鲜为人知，在许多工程设计领域中的利用严重不足。安定性分析应用推广的一个主要障碍是缺少使用现代全场测量对一系列苛刻的热力学载荷条件进行的实验评估。提供这种实验表征以便扩大安定性设计和优化的应用范围，是理海大学 Natasha Vermaak 博士团队的主要目标之一。
理海团队利用实验数据标定本构模型。他们将接触式引伸计和非接触式 DIC（数字图像关联）系统提供的信息结合起来，以便更好地理解并建模循环非弹性行为。
数据同步
测试系统控制器具有多个数字和模拟输入输出，可将热力学测试与 DIC 控制器同步，以便进行 DIC 测量。实验数据同时存储在两个系统中；DIC 结果（DIC 场、部件、项目）保存在 DIC 系统中，而测试系统数据则保存在其中。但是，测试系统控制器的模拟输出还允许将两个通道和热成像补偿发送至 DIC 系统，并保存在相应的 DIC 项目中。这样就可以在 DIC 场和施加载荷之间实现更好的时间同步。还可以更轻松地将全场测量值与基于点的数据进行比较。
数据分析和缩减
测试系统软件的一个重要功能是可以对实验进行编程，根据中间测量改变行为。使用条件编程，样件响应测量会产生不同的条件，启动额外的测量或调整载荷条件。安定性测试的目的是确定循环加载过程中塑性变形积累是否稳定。软件可以生成用户定义的程序，自动检查此条件。如果是用于触发 DIC 控制器，则只记录相关数据并完成数据缩减。DIC 系统还为数据同步和采集提供了互补功能。
互补应变测量解决方案
测试实验室同时使用接触式和非接触式应变测量解决方案，因为它们的组合可以实现更全面的材料表征。DIC 提供的信息远远超过引伸计，例如试样上所有可见点的位移和应变。非接触式测量解决方案则在试样数量、实验设置和可重用性方面增加了自由度。另一方面，接触式引伸计是公认稳定可靠的应变测量技术。引伸计还可实现高于 DIC 系统的数据采集速率，而 DIC 系统的图像可能需要大量的数据存储空间和处理时间。
Vermaak Lab 借助来自其测试系统和 DIC 系统合作伙伴的工程、应用和集成支持，使得这些系统的数据收集、同步和分析准确而高效。
理海大学为安定性设计打开大门
安定性可通过在循环载荷上建立适当的残余应力来实现，从而阻止塑性变形积累，恢复纯弹性行为。虽然安定性的概念和设计规则在 20 世纪 20 年代就已制定，但在核工业之外鲜为人知，在许多工程设计领域中的利用严重不足。安定性分析应用推广的一个主要障碍是缺少使用现代全场测量对一系列苛刻的热力学载荷条件进行的实验评估。提供这种实验表征以便扩大安定性设计和优化的应用范围，是理海大学 Natasha Vermaak 博士团队的主要目标之一。
理海团队利用实验数据标定本构模型。他们将接触式引伸计和非接触式 DIC（数字图像关联）系统提供的信息结合起来，以便更好地理解并建模循环非弹性行为。
数据同步
测试系统控制器具有多个数字和模拟输入输出，可将热力学测试与 DIC 控制器同步，以便进行 DIC 测量。实验数据同时存储在两个系统中；DIC 结果（DIC 场、部件、项目）保存在 DIC 系统中，而测试系统数据则保存在其中。但是，测试系统控制器的模拟输出还允许将两个通道和热成像补偿发送至 DIC 系统，并保存在相应的 DIC 项目中。这样就可以在 DIC 场和施加载荷之间实现更好的时间同步。还可以更轻松地将全场测量值与基于点的数据进行比较。
数据分析和缩减
测试系统软件的一个重要功能是可以对实验进行编程，根据中间测量改变行为。使用条件编程，样件响应测量会产生不同的条件，启动额外的测量或调整载荷条件。安定性测试的目的是确定循环加载过程中塑性变形积累是否稳定。软件可以生成用户定义的程序，自动检查此条件。如果是用于触发 DIC 控制器，则只记录相关数据并完成数据缩减。DIC 系统还为数据同步和采集提供了互补功能。
互补应变测量解决方案
测试实验室同时使用接触式和非接触式应变测量解决方案，因为它们的组合可以实现更全面的材料表征。DIC 提供的信息远远超过引伸计，例如试样上所有可见点的位移和应变。非接触式测量解决方案则在试样数量、实验设置和可重用性方面增加了自由度。另一方面，接触式引伸计是公认稳定可靠的应变测量技术。引伸计还可实现高于 DIC 系统的数据采集速率，而 DIC 系统的图像可能需要大量的数据存储空间和处理时间。
Vermaak Lab 借助来自其测试系统和 DIC 系统合作伙伴的工程、应用和集成支持，使得这些系统的数据收集、同步和分析准确而高效。
